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ATX210覆層測厚儀
日期:2025-08-28 10:33
浏覽次數:1347
摘要:ATX210覆層測厚儀概述
ATX210覆層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行塗、镀層厚度的測量;既可用於實驗室,也可用於工程現場;廣泛地應用在製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測範圍;是材料保護專業必備的儀器。
ATX210覆層測厚儀符合以下標準:
GB/T4956-1985 磁性方法
GB/T4957-1985 渦流方法
JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
JG889-95 《磁阻法測厚儀》
JJG818-93 《電渦流式測厚儀》
ATX210覆層測厚儀
ATX210覆層測厚儀性能特點
采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、铬、銅、橡膠、油漆等),非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
設有五個分析