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覆層測厚儀展現
日期：2025-08-28 10:30
浏覽次數：493
摘要：
覆層測厚儀展現
覆層測厚儀是嶄新研制的新产品，與之前塗層測厚儀相比有以下主要優點：
1. 測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
2. 精度高 ：产品簡單校0後精度即可達到1-2%是目前市場上唯壹能達到A級的产品,其精度遠高於時代等國內同類.比EPK等進口产品精度也高；
3. 穩定性：測量值的穩定性和使用穩定性優於進口产品；
4. 性能、數據、操作、顯示全部是中文；
對材料表面保護、裝飾形成的覆盖層，如塗層、镀層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 覆層厚...
覆層測厚儀展現
覆層測厚儀是嶄新研制的新产品，與之前塗層測厚儀相比有以下主要優點：
覆層測厚儀是嶄新研制的新产品，與之前塗層測厚儀相比有以下主要優點：
1. 測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
2. 精度高 ：产品簡單校0後精度即可達到1-2%是目前市場上唯壹能達到A級的产品,其精度遠高於時代等國內同類.比EPK等進口产品精度也高；
3. 穩定性：測量值的穩定性和使用穩定性優於進口产品；
4. 性能、數據、操作、顯示全部是中文；
對材料表面保護、裝飾形成的覆盖層，如塗層、镀層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程品質檢測的重要一環，是产品達到優等品質標準的必備手段。為使产品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層測厚儀的測量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線荧光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁琐，速度慢，多適用於抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量範圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規範。X射線法可測極薄镀層、雙镀層、合金镀層。β射線法適合镀層和底材原子序號大於3的镀層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
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