時代塗層測厚儀選型註意事項

 
                                                                  時代塗層測厚儀選型註意事項
 
      
（一）選型註意事項細則
1、為什麼選擇時代塗層測厚儀，時代产品的優勢在哪裏？
 
   答：首先時代产品有非常高的品質保障，持有國內最大最先進的生产線，近二十年的生产歷史，目前國內占有率在70％以上，效勞方面，時代公司國內有20多家分公司，數百家代理機構，最大限度的達成當地購買就近維修。作為一家以檢測儀器為主業在深交所上市的高薪技藝産業，時代公司在生产、開發、銷售各方面持有非常雄厚的能力。
2、時代塗層測厚儀主要測量什麼材料的塗層？
   答：時代塗層測厚儀可以測量磁性金屬基材上的非磁性塗層的厚度，非磁性金屬基材上非導電層的厚度。
3、時代塗層測厚儀可以測非金屬材料上的塗層嗎？
   答：目前時代产的塗層測厚儀還不能夠測量非金屬材料上的塗層厚度，只能測量鐵基上非磁性材料的塗層，非鐵基金屬材料上絕緣層的厚度。
   另：對於非金屬基體材料的塗層測量目前可選擇電解、X射線、超聲塗層等方面的儀器，但是各種方式都有利弊，電解會破壞材料，X射線測厚儀造價比較高，超聲塗層測厚儀準確度及穩定性不是很好，目前有很多用戶使用時代測厚儀通過間接方法進行測量，例如：噴塗過程中將金屬材料與非金屬材料同時噴塗，然後測量同一工藝下的金屬塗層厚度，間接得出非金屬材料噴塗的厚度。
4、時代塗層測厚儀可以測高溫材料的塗層嗎？
    答：時代測厚儀不能測量高溫材料，原則上只能測60度以下的材料。
5、時代塗層測厚儀可以測量镀镍層的厚度嗎？
    答：不能！因為镍既導磁有導電，所以不能測量镀镍層的厚度。
6、我廠的塗層為防火材料，厚度在 5-8個毫米，能否使用貴廠的产品進行測量。
    答：選配TT260配以F10探頭，可測量0－10mm的塗層厚度。
7、鋼管的內外壁都镀有镀層，能否測量？
    答：對於滿足測量材料要求的管道內壁的電镀層時代有專門的F1/90探頭，最小半徑要求：
R＞7mm即可。
8、镀層在5個微米左右可以測量嗎？用哪款儀器更合適？
    答：選配時代F400型探頭可以穩定的測量5um的厚度
☆9、銅上镀铬能測嗎 ？
    答：時代渦流測厚儀可以測量銅上镀铬的工件，但是铬層必須小於40um。
10、可以測量薄膜、紙張的厚度嗎？
   答：對於滿足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應用顧客很多。
11、時代測厚儀可以測量螺桿上螺紋塗層的厚度嗎？
    答：直徑比較小的螺桿上面螺紋塗層的厚度目前時代儀器不能測量。
12、什麼情況下選擇配通訊軟件，時代通訊軟件有哪些性能？
   答：目前時代塗層測厚儀中TT260可以選配通訊軟件，新版軟件在原軟件基礎上進行了升級，性能強大實用性強，包括聯機下載、數據存儲、測量分析、技藝幫助等，輸出方式有WORD文檔、EXCEL表格、TXT文本、HTML網頁，可與計算機達成實時傳輸、實時打印。當用戶需要對測量數據進行系統分析建立數據庫時建議選用時代TT260通訊軟件。
13、CN02探頭是用來測什麼材料的？
    答：CN02探頭是專門用來測量線路版上銅箔厚度的，量程為0－200um
 
（二）影值的因素

1．影響因素的有關說明

a) 基體金屬磁性質
   磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待塗覆試件進行校準。

b) 基體金屬電性質
   基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

c) 基體金屬厚度
   每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大於這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d) 邊緣效應
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

e) 曲率
   試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨着曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形
    測頭會使軟覆盖層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

g) 表面粗糙度
   基體金屬和覆盖層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未塗覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆盖層後，再校對儀器的零點。

g) 磁場
    周圍各種電氣設備所产生的強磁場，會嚴重地幹擾磁性法測厚工作。

h) 附着物質
   本儀器對那些妨礙測頭與覆盖層表面緊密接觸的附着物質敏感，因此，必須**附着物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i) 測頭壓力
    測頭置於試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

j) 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

2．使用儀器時應當遵守的規定

a) 基體金屬特性
   對於磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
    對於渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

b) 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。

c) 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

d) 曲率
    不應在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數次數
   通常由於儀器的每次讀數並不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆盖層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。

f) 表面清潔度
    測量前，應**表面上的任何附着物質，如塵土、油脂及腐蝕产物等，但不要除去任何覆盖層物質。